U-LINK 系列使我们新电脑终端 ，可以取代所有其他！它和 P-LINK一样小, 和S-LINK 一样快，和 M-LINK一样多用途。电脑终端可读取所有探头，用于功率和能量的测量。它可以使用USB和...

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UNO 系列就是一个简单的功率计，具有较大的对比范围并配有一键进入按钮。它极低的功耗使它能够在标准碱性电池上工作，也使它成为在现场工作的服务技术人员的选择的表头设备。当您在寻找可靠的入门级功率计时，U...

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MIRO ALTITUDE 系列特点：1、所有探头都可读取；2、大触摸屏显示；3、直观的用户界面；4、实时统计功能；5、多种输出。

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针对高反射率（R99.7%）的光学样品，德国 IPHT Jena研发了光腔衰荡光谱法（Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS）CRD高反射率测量仪, 它通过对指数型腔内衰...

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美国Hidns Instruemtns -LCD材料的超低阶双折射测量在与众多的光学材料制造商合作多年后，Hinds 仪器公司推出了Exicor 1500AT系统，用于测量大面积光学材料，如用于LCD...

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QptLuxSD是一款创新性的光学表面瑕疵检测，具备高重复性和准确性，系统根据设定的检验标准自动生成详细的通过/失败报告，与光学行业现在很多的具有很强主观性的人工检验以及其他手动检验设备相比，提供光学...

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该系统利用PEM调制光束的偏振状态、先进探测和解调电子来测量光学如何改变偏振状态。这就导致了一个偏振状态相对于另一个偏振状态的光延迟测量结果是90°。利用这些数据可以对双折射、快速轴向和理论...

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150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品，用于残余应力检测。该应力双折射测量系统既可作为实验室科研探索测量光学组件应力分布测量，也可用作诸如玻璃面板，透镜，晶体，单晶硅/多...

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BEAMAGE系列光束质量分析仪分析激光光束是对其功率或能量测量的一种方便补充，因为光束质量分析仪提供了非常有用的附加信息，如空间能量或强度分布、光束宽度、质心、椭圆度和方向，可以帮助您确定您的激光系...

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