18519585532
产品中心
PRODUCT CENTERgentec-eo激光功率计和能量计在这个领域拥有超过45年的历史。 Gentec-EO功率计的UP17-H/W系列具有薄外壳、智能界面。凭借45年的记录以及从工厂到医院和实验室提供激光功率和能量测量...
Gentec Electro Optics提供全系列产品以满足您的脉冲能量测量需求。Gentec-EO激光能量计从精益和便携式QE12和QE25系列,大光圈QE50、QE65和QE95系列到我们的大型...
加拿大Gentec-EO 推出激光功率计能量计表头,为拥有完整的激光功率测量系统,您将需要一款采集与读出设备搭配您的功率探测器。我们提供不同功能的设备以满足需求。无论您希望在大型触摸显示屏彩色 LCD...
针对高反射率(R99.7%)的光学样品,德国 IPHT Jena研发了光腔衰荡光谱法(Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS)CRD高反射率测量仪, 它通过对指数型腔内衰...
ENTERPRISE ADVANTAGE
选择我们就是选择高品质,我们是您的信赖之选!非接触式、非破坏性,实时在线测量或离线测量
可单次测量多层膜,可测20层
探针灵活配置,实现多个不同目标测量
测试速度快,适用范围广
关于我们
ABOUT US北京昊然伟业光电科技有限公司成立于2010年,专业代理欧美(德国、瑞士、美国、波兰等)高精度的光学检测设备,致力于为科研和工业客户提供光学检测解决方案及包括售前、售中及售后在内的服务。主要包括:光学检测产品:应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等测量系统/剪切干涉仪/非接触式测厚仪/测角仪/可调相位延迟波片等;激光检测产品:激光功率计、能量计及光束质量分析仪等;集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等显微系统所需的XYZ电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps门...
技术支持
TCEHNICAL SUPPORT在材料科学和工程领域,了解材料内部应力分布对于确保材料性能和可靠性至关重要。然而,传统的应力检测方法往往需要破坏性测试或复杂的仪器设备。本文将介绍一种非常规的应...
11-27
激光能量计是在一管状金属外壳中依次设有探测器、与该探测器电连接的放大器以及信号输出单元,并且在外壳的激光入射口和探测器之间,设有一陶瓷空心腔,该陶瓷空心腔为封闭的空心柱体,柱体的轴向与激光进入壳体方向平行。本发明由于在探测器前设计了漫射式空心柱面陶瓷腔作为衰减器,使激光经过陶瓷衰减腔后出射的是均匀场,因而可以在该均匀场中的任一位置使用小尺寸探测器探测,同时可有效避免探测器的局部损伤问题,使本发明的激光能量计可用于高能量密度激光的测量。激光能量计主要用于测量激光脉冲能量和功率密...
11-25
gentec-eo激光功率计通过热效应探测器实现对激光功率的快速和准确测量。它在激光加工、医疗、研究和通信等领域中的应用广泛。市场上主要有两种类型的激光功率计,分别是热光功率计和光电功率计。热光功率计使用热敏探测器(例如热电偶)来测量激光功率,而光电功率计使用光敏元件(例如光电二极管)来测量激光功率。gentec-eo的激光功率计产品涵盖了这两种类型的功率计。主要应用于激光科研、激光制造和医疗等领域。随着激光技术的快速发展,激光功率计市场也在不断扩大。gentec-eo的产品...
11-24
激光功率计是一种用于测量激光输出功率的仪器。在现代科学和工业应用中,激光技术被广泛应用于光学、电子、通信、医学等领域。为了保证激光装置的性能和安全运行,以及进行科学研究和工程实践,准确测量激光输出功率显得非常重要。主要基于吸收和散射的光学特性。它通常由两个主要部分组成:传感器和显示器。传感器是用于接收激光能量并将其转换为电信号的部件,而显示器则用于显示经传感器测得的功率值。选购激光功率计时,我们需要考虑以下几个关键因素:1.确定所需的功率范围。不同的应用需要不同范围的功率计,...
新闻中心
NEWS CENTER光学玻璃是一种具有优异光学性能的材料,广泛应用于光学仪器、激光技术、光纤通信等领域。然而,在光学玻璃的加工过程中,由于内部和外部因素的影响,容易产生应力。应力对...
9-14
gentec-eo激光能量计是使用于测量激光能量的仪器设备。它在科学研究、工业制程和医学等领域中扮演着重要的角色。利用非常规方法测量激光束能量的仪器。传统的方式是使用热能感应器测量激光束在探测器表面产生的温度变化。然而,随着激光技术的不断发展,测量精度和响应速度等方面的要求变得越来越高,因此传统的热能感应器已经不能满足需求。能量功率累积器技术,可以快速准确地测量激光束的能量。它使用的传感器可以在微秒量级内响应激光脉冲,对于高功率、高重复频率的激光器非常适用。同时,它还具有宽能...
8-23
Lumetrics测厚仪是基于光学干涉原理设计的。当光线通过物体时,会发生干涉现象,根据干涉的特性可以推断出物体的厚度。利用光学干涉技术,通过测量光线的干涉图案来确定物体的厚度。它使用一束激光光源照射在被测物体表面,光线经过物体后会发生干涉,然后通过检测器采集干涉图案,通过算法处理得到物体的厚度信息。它具有高精度的测量能力。由于采用了光学干涉原理,可以实现亚微米级甚至纳米级的测量精度,非常适用于对薄膜、涂层等薄型材料的测量。其次,具有非接触测量的特点,不会对被测物体造成损伤或...
8-2
光学玻璃应力测量是种非接触式的测量方法,用于测量物体表面的应力分布情况。它基于光学原理和材料力学性质的相互作用,通过测量物体表面的力学变形来推断应力分布。利用光学原理和材料力学性质的相互作用实现对物体表面应力分布的测量。它具有非接触、高精度和实时监测等优点,适用于多种应力分布的测量和分析领域。光学玻璃应力测量基于三个主要步骤:光束传输、受力变形和光强检测。光束传输:使用激光器产生一束平行光束,然后通过透镜系统将光束聚焦到待测物体表面上。这个聚焦过程使得光束的直径减小,并且提高...