测量速度快是Lumetrics 测厚仪的一大优点

　　当光进入Lumetrics 测厚仪的干涉仪后，输入光被等比例分束成为两束光。这两束光频率相同、振动方向相同，但具有稳定的相位差，并沿不同光路传播。在输出端重新汇合叠加时，会出现光的干涉现象。光强在叠加区域内不是均匀分布，而是在数值之间逐点变化，可能超过两光束之和，小值可能是零。通过分析这种干涉条纹的变化，可以准确地测量出被测物体的厚度。
 

　　Lumetrics 测厚仪优点：
 

　　-非接触式测量：它不需要与被测物体直接接触，避免了传统接触式测量可能对物体表面造成的划伤、磨损等损害，尤其适用于测量柔软、易碎或表面精度要求高的材料，如薄膜、涂层等。同时，非接触式测量也减少了测量过程中对被测物体的干扰，能够更真实地反映物体的实际厚度。
 

　　-高精度测量：利用光学干涉原理，能够实现较高的测量精度。它可以检测到微小的厚度变化，对于纳米级厚度的测量也能准确进行。这种高精度特性使其在对厚度要求严格的行业，如半导体制造、光学薄膜制备等领域具有重要应用价值，能够满足这些行业对产品质量和性能的高要求。
 

　　-实时在线测量能力：该测厚仪具备实时在线测量功能，能够在生产过程中持续不断地对物体厚度进行监测。这对于大规模生产的工业环境来说至关重要，操作人员可以根据实时测量数据及时调整生产工艺参数，确保产品质量的稳定性和一致性，提高生产效率，降低次品率。
 

　　-多层膜测量能力：Lumetrics 测厚仪可以单次测量多层膜的厚度，可测高达20层的膜。这一特点使得它在复杂的多层结构材料测量中具有特殊的优势，例如在光学镀膜、电子封装等领域，能够准确地分析每一层薄膜的厚度和质量，为产品的研发和生产提供关键的数据支持。
 

　　-灵活的配置和多目标测量：其探针可根据具体测量需求进行灵活配置，可配备8个探头。通过合理配置探头，可以实现对多个不同目标的测量，满足复杂测量场景的要求，提高了测量的效率和灵活性，为用户提供了厚度测量解决方案。
 

　　-快速测量速度：测量速度快是Lumetrics 测厚仪的又一优点，其测量速度可达1s。在生产线上，快速的测量速度能够及时跟上生产节奏，减少测量时间对生产过程的影响，提高生产效率，同时也有助于更频繁地获取测量数据，以便更准确地监控产品质量。