热门关键词: 测角仪,应力双折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD检测设备,波片相位延迟,剪切
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穆勒矩阵测量系统
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穆勒矩阵测量系统中采用四个光弹性调制器(PEM),150XT Mueller偏振计可以在短时间内同时测量所有十六个穆勒r矩阵元素和样品的完整偏振特性。 Hinds 仪器公司产品系列的这一新增功能可应用于学术和工业研究、光学元件特性、制造和质量控制。 承包系统在各种光学、化学和生物化学样品中绘制出线性延迟、圆形延迟(或旋光)、线性二次衰减和圆形二次衰减。
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