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  • Exicor® PV-Si应力双折射检测

    在硅太阳能电池板的生产过程中,硅晶体中的应力在制作过程中往往没有被检测到,我们描述了一种测量硅锭的应力双折射检测,它可以是方形的,也可以是生长的,然后被锯成硅片,当这台仪器被用作质量控制工具时,在后续加工成本发生之前,可以识别出低质量的硅锭或钢锭。此外,该仪器还为硅晶体的生长提供了一种提高硅锭质量的工具,使其能够生产出较薄的硅片,降低了机械产量损失。

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    更新日期:2022-09-27
  • Hinds

    美国Hidns Instruemtns -LCD材料的超低阶双折射测量 在与众多的光学材料制造商合作多年后,Hinds 仪器公司推出了Exicor 1500AT系统,用于测量大面积光学材料,如用于LCD(高达1500mm x 1500mm)的光学材料。 随着液晶显示器材料规格的成熟,专业化的系统已经成为行业所需要的。Hinds现在提供从GEN5到GEN

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    更新日期:2022-09-27
  • OIA残余应力测量

    该系统利用PEM调制光束的偏振状态、先进探测和解调电子来测量光学如何改变偏振状态。这就导致了一个偏振状态相对于另一个偏振状态的光延迟测量结果是90°。利用这些数据可以对双折射、快速轴向和理论残余应力测量进行评估。在平板透镜和己完成透镜的研究和生产中, HindsInstruments和Exicor斜入射角技术被用于评估光学双折射

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    更新日期:2022-09-27
  • 150AT残余应力检测

    150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品,用于残余应力检测。该应力双折射测量系统既可作为实验室科研探索测量光学组件应力分布测量,也可用作诸如玻璃面板,透镜,晶体,单晶硅/多晶硅、注塑成品等工业生产中检测产品应力分布。产品软件直观显示待测样品应力情况,便于操作和日常监测。

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  • Exicor-System美国Hinds Instruments

    美国Hinds Instruments 的Exicor®双折射测量技术于1999年推出,型号为150AT,为客户提供技术,具生产价值的测量双折射的能力。Exicor系统的高灵敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技术的产品,该技术推出了超低双折射光弹性调制器(PEM)。

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    更新日期:2022-09-27
  • Exicor-OIA应力双折射

    Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要应力双折射测量系统。该系统是建立在Hinds lnsrtuments 光弹调制器( PEM)基于Exicor®双折射测量技术。新一代的双折射测量系统为该行业提供了分析和开发下一代光刻透镜、透镜毛坯和高价值精密光学的新能力。

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    更新日期:2022-09-27
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