在硅太阳能电池板的生产过程中，硅晶体中的应力在制作过程中往往没有被检测到，我们描述了一种测量硅锭的应力双折射检测，它可以是方形的，也可以是生长的，然后被锯成硅片，当这台仪器被用作质量控制工具时，在后续加工成本发生之前，可以识别出低质量的硅锭或钢锭。此外，该仪器还为硅晶体的生长提供了一种提高硅锭质量的工具，使其能够生产出较薄的硅片，降低了机械产量损失。

Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要应力双折射测量系统。该系统是建立在Hinds lnsrtuments 光弹调制器（ PEM）基于Exicor®双折射测量技术。新一代的双折射测量系统为该行业提供了分析和开发下一代光刻透镜、透镜毛坯和高价值精密光学的新能力。

圆二色性测量系统使用垂直光路直接从标准孔板测量圆二色性。这样就不需要将溶液转移到试管中进行筛选，也不需要在分析过程中清洗试管

各向异性测量系统2-MGEM椭圆计是一个重大的突破，光学各向异性测量技术更快、更准确、收集更多的数据。

Strokes 偏振计在光学元件表征、光学系统光束输出特性、天文学、光纤制造、光源和激光质量控制等方面有着广泛的应用。

双折射显微镜 EXICOR-MICROIMAGER为学术界和工业界的研究人员提供了评估双折射的能力。无论是生物材料还是工业材料。

双折射（应力）测量系统 EXICOR-SYSTERMS，设计减去了光学系统中的移动部件，并避免了在测量角度之间切换。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM调制。