热门关键词: 测角仪,应力双折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD检测设备,波片相位延迟,剪切
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美国Hinds Instruments 的Exicor®双折射测量技术于1999年推出,型号为150AT,为客户提供技术,具生产价值的测量双折射的能力。Exicor系统的高灵敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技术的产品,该技术推出了超低双折射光弹性调制器(PEM)。
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