咨询热线

18519585532

当前位置:首页   >  产品中心   >  应力仪  >  应力双折射Exicor-OIA

  • OIA残余应力测量

    该系统利用PEM调制光束的偏振状态、先进探测和解调电子来测量光学如何改变偏振状态。这就导致了一个偏振状态相对于另一个偏振状态的光延迟测量结果是90°。利用这些数据可以对双折射、快速轴向和理论残余应力测量进行评估。在平板透镜和己完成透镜的研究和生产中, HindsInstruments和Exicor斜入射角技术被用于评估光学双折射

    访问次数:147
    产品价格:面议
    厂商性质:代理商
    更新日期:2022-09-27
  • Exicor-OIA应力双折射

    Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要应力双折射测量系统。该系统是建立在Hinds lnsrtuments 光弹调制器( PEM)基于Exicor®双折射测量技术。新一代的双折射测量系统为该行业提供了分析和开发下一代光刻透镜、透镜毛坯和高价值精密光学的新能力。

    访问次数:196
    产品价格:面议
    厂商性质:代理商
    更新日期:2022-09-27
共 2 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
北京昊然伟业光电科技有限公司
  • 联系人:Gloria. Yang
  • 地址:北京市门头沟区莲石湖西路98号院7号楼1006室
  • 邮箱:gloria.yang@opcrown.com
  • 传真:010-68214292
关注我们

欢迎您关注我们的微信公众号了解更多信息

扫一扫
关注我们
版权所有©2022北京昊然伟业光电科技有限公司All Rights Reserved    备案号:京ICP备10042209号-3    sitemap.xml    总访问量:15268
管理登陆    技术支持:化工仪器网