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热门关键词: 测角仪,应力双折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD检测设备,波片相位延迟,剪切
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当前位置:首页 > 产品中心 > 应力仪 > 应力双折射Exicor@PV-Si
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在硅太阳能电池板的生产过程中,硅晶体中的应力在制作过程中往往没有被检测到,我们描述了一种测量硅锭的应力双折射检测,它可以是方形的,也可以是生长的,然后被锯成硅片,当这台仪器被用作质量控制工具时,在后续加工成本发生之前,可以识别出低质量的硅锭或钢锭。此外,该仪器还为硅晶体的生长提供了一种提高硅锭质量的工具,使其能够生产出较薄的硅片,降低了机械产量损失。
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