应力双折射

简要描述：Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要应力双折射测量系统。该系统是建立在Hinds lnsrtuments 光弹调制器（ PEM）基于Exicor®双折射测量技术。新一代的双折射测量系统为该行业提供了分析和开发下一代光刻透镜、透镜毛坯和高价值精密光学的新能力。

产品型号：Exicor-OIA
厂商性质：代理商
更新时间：2024-04-23
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残余应力测量方法介绍

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Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要应力双折射测量系统。该系统是建立在Hinds lnsrtuments光弹调制器（ PEM）基于Exicor®双折射测量技术。新一代的双折射测量系统为该行业提供了分析和开发下一代光刻透镜、透镜毛坯和高价值精密光学的新能力。

该系统利用PEM调制光束的偏振状态、先进探测和解调电子来测量光学如何改变偏振状态。这就导致了一个偏振状态相对于另一个偏振状态的光延迟测量结果是90。。利用这些数据可以对双折射、快速轴向和理论残余应力进行评估。在平板透镜和己完成透镜的研究和生产中， Hinds Instruments的Exicor斜入射角技术被用于评估光学应力双折射。

双折射测量EXICOR OIA----_页面_3.jpg

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