LID光热偏转技术弱吸收仪采用光热偏转技术，用于测量透明光学材料及镀膜产品受到激光照射后产生的微弱吸收。在强激光照射下，材料内部由于吸收热能产生折射率梯度现象（热透镜效应），当一束探测光经过“热透镜”效应区域时发生位置偏移，通过PSD位移传感器测量其位置偏移量。

PCI共光路干涉弱吸收仪测量原理：Pump 光(泵浦光)为一束光束质量较好的强激光聚焦到待测样品上，光吸收的存在将在样品内部产生热波，从而在样品内部形成周期性的梯度折射率分布，即热透镜效应，当一束Probe beam(探测光)经过热透镜效应区域与pump光相交时，探测光在该焦点处波前发生畸变引起点衍射共路干涉，并产生周期性相位畸变信号。探测器通过探测其相位畸变情况并由锁相放大器信号处理。