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PCI共光路干涉弱吸收仪

简要描述:PCI共光路干涉弱吸收仪测量原理:Pump 光(泵浦光)为一束光束质量较好的强激光聚焦到待测样品上,光吸收的存在将在样品内部产生热波,从而在样品内部形成周期性的梯度折射率分布,即热透镜效应,当一束Probe beam(探测光)经过热透镜效应区域与pump光相交时,探测光在该焦点处波前发生畸变引起点衍射共路干涉,并产生周期性相位畸变信号。探测器通过探测其相位畸变情况并由锁相放大器信号处理。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2022-09-27
  • 访  问  量:761

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PCI共光路干涉弱吸收仪测量原理

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右图,Pump 光(泵浦光)为一束光束质量较好的强激光聚焦到待测样品上,光吸收的存在将在样品内部产生热波,从而在样品内部形成周期性的梯度折射率分布,即热透镜效应,当一束Probe beam(探测光)经过热透镜效应区域与pump光相交时,探测光在该焦点处波前发生畸变引起点衍射共路干涉,并产生周期性相位畸变信号。探测器通过探测其相位畸变情况并由锁相放大器信号处理,最后由软件计算显示出待测样品的吸收值。

PCI共光路干涉弱吸收仪特点:

  • 精度高: 1 ppm;

  • 一次测量可以区分体、面吸收;

  • 扫描速度快(几分钟);

  • 对样品规格要求不高;

  • 操作方便、简单。

PCI共光路干涉弱吸收仪应用领域:

  • 光学薄膜

  • 光学晶体材料

  • 光学镜片

PCI共光路干涉弱吸收仪性能

  • 测量晶体(LBO、YVO4、KTP…)或光学产品(K9、BK7、UVFS…)内部材料的弱吸收(体吸收)

  • 测量晶体或光学产品的表面吸收或薄膜吸收

PCI 指标说明

波长常规355、532、1064nm,其它波长可定制
灵敏度体吸收:1ppm/cm;面吸收:1ppm
样品规格
方形、圆形均可
最小尺寸(mm):3x3x3;
最大尺寸(mm):50x50x50
其它尺寸可定制
测试速度常规2min/片(相对6mm厚度)
区分体、面吸收一次测量可以区分体、面吸收
软件扫描功能
AbMat-1D: 一维逐点扫描
AbMat-2D: 二维吸收立体扫描
扫描方式长度/面/时间扫描

PCI 配置说明

1.光源
Probe光源
632nmHe-Ne 激光器(imported with original packaging)
-最大功率:2mw
-功率稳定性:<0.1%
-发散角:1.3mrad
-偏振比:500:1
Pump光源
#1064nm 光纤激光器
-平均功率: 20W(CW)
-光束质量M2:<1.5
-功率稳定性:<2%(超过5 小时)
-偏振:随机
-制冷方式:风冷
-偏振光系统
2.探测部分
imported with original packaging
含锁相放大器、光斩波器、探测器、功率计、二维调整架等。
3.载物台部分
imported with original packaging
含三维步进电机、样品支架等
4.光学元件部分反射镜、透镜、功率调节器等
5.软件部分
实时数据采集,自动保存,数据分析等。
一维逐点扫描
二维吸收立体扫描
6.其它说明
建议设备安装在超净间环境;
建议配UPS电源。

测量结果及仪器实物图

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