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  • LID光热偏转技术弱吸收仪

    LID光热偏转技术弱吸收仪采用光热偏转技术,用于测量透明光学材料及镀膜产品受到激光照射后产生的微弱吸收。在强激光照射下,材料内部由于吸收热能产生折射率梯度现象(热透镜效应),当一束探测光经过“热透镜”效应区域时发生位置偏移,通过PSD位移传感器测量其位置偏移量。

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    产品价格:面议
    厂商性质:代理商
    更新日期:2022-09-27
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