光学表面质量检测系统是一款革命性的光学表面 质量检测系统，具备高重复性和准确性。

非接触式测厚仪采用了短相干光源的迈克尔逊干涉仪原理。可单次测量多层膜，最高可测 20 层。

夏克哈特曼传感器集合了干涉仪、光束分析仪、自准直仪及四象限探测器优点于一身，具有测量速度快、精度高、尺寸小巧的特点。

干涉仪：非接触式技术检测抛光平面和球面的精度（功率、不规则度）；测试表面半径；检测目标传输波前畸变（TWD)。

Optikos相机测试系统Meridian Starfield采用紧凑型高精度设计，适用于生产线末端相机测试，或在大批量生产中对相机组件进行主动校准。

Optikos OpTest®光学测量与测试系统融合了光学和光机工程领域的新技术与创新结果，由Optikos的工程师专门为镜头测试设计的定制光学元件、机械部件和电子元件组成，进而提供全面的镜头测试产品线，并提供升级方案和模块，可扩展OpTest®计量功能，包括透射率、杂散光、无焦、有限共轭和紫外先测试等测量项目。

LensCheck™系列小口径镜头MTF传函仪，灵活扩展的平台能够应对更广泛的测量 (例如：MTF、EFL、畸变等) 。