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激光测厚仪:非接触式高精度测量的光学利器
2025-10-27

核心工作原理:激光三角测距与双传感器对射激光测厚仪的核心技术基于激光三角测距原理与双传感器对射测量法。其工作流程如下:激光发射与光斑形成激光器发射一束高精度激光,照射至被测物体表面,形成直径仅微米级的光斑。该光斑作为测量基准点,确保局部测量的准确性。光斑位置捕捉与信号转换成像物镜...

  • 2023-07-21

    激光测厚仪是常用的非接触式测量仪器,用于测量物体的厚度。它利用激光光源发射出的激光束进行测量,通过测量激光的反射或透过程度来确定物体的厚度值。激光测厚仪的主要部件包括激光发射器、接收器和信号处理模块:发射激光束:通过激光发射器产生一束单色、相干性强的激光束。这些激光束通常是红色或绿色的,并具有较窄的波长范围。照射目标物体:激光束被照射到待测量的物体表面。激光光束在与物体接触时会发生不同程度的散射、吸收或透射。接收反射光:接收器会接收被物体表面反射回来的激光,并将其转换为电信号...

  • 2023-06-01

    光束质量分析仪(BeamMassSpectrometer)主要是利用带电量与质量之比的差异,在外加高频电场的作用下对不同种类的气体分子进行质谱分析。构成由四大部分组成:离子化装置、选择器、检测器和信号采集与处理系统。其中,离子化装置通过碰撞、放电或激光等作用将待测试气体分子转化为带电离子,并将其引入选择器。而选择器则通过不同形式的高频电场的协同作用对质量相近的离子进行筛选和聚焦,形成一个质量能量很少变化的离子束。检测器则岸上信号采集与处理系统对离子束的信息进行收集和处理,生成...

  • 2023-05-19

    应力双折射仪是一种用于测量光线经过单轴晶体时的双折射现象的仪器。其工作原理基于它们的物质学性质,即单轴晶体沿一个方向具有高度对称性,沿其他两个方向则没有对称性。这使得单轴晶体对于进入的光线在两个反向传播方向上表现出不同的折射率。例如,若将一束与晶体轴夹角相等的地面光投入样品,其中一束光会同时沿着晶体轴和众多不同的方位产生折射;而另一束仅纵向通过晶体。由两部分组成:样品和偏振器(Polarizer)。一个固定的偏振器放在样品前面,以控制作用在晶体上的光源偏振状况。然后光通过样品...

  • 2023-03-31

    2023年4月7日分别在杭州、天津和长沙举行三场学术会议。昊然伟业作为三场会议赞助商诚挚邀请各位莅临。以下是三个学术会议的详细信息:第三届人工晶体材料青年学术会议会议召开日期:2023年4月7—9日会议地点:杭州·杭州富阳瑞莱克斯大酒店会议专题1、晶体生长原理与数值模拟2、激光与非线性光学晶体3、辐射探测晶体4、半导体晶体与器件5、电/声/磁及其他功能晶体6、人工微结构与特殊环境晶体生长7、透明陶瓷材料第二十五届全国激光学术会议会议召开日期:2023年4月7—10日会议地点:...

  • 2023-03-29

    gentec-eo激光能量计的原理是利用激光与物质相互作用的特性,通过测量激光脉冲在物质中的吸收和反射情况,来计算出激光脉冲的能量。用于测量激光脉冲能量的仪器,它是激光技术中非常重要的一部分。在激光加工、激光医疗、激光通信等领域中,都扮演着至关重要的角色。根据其测量原理的不同,可以分为热传导式、热电式和光学式三种类型。其中,热传导式的测量精度较低,主要用于测量低能量的激光脉冲;热电式的测量精度较高,主要用于测量中高能量的激光脉冲。gentec-eo激光能量计可以用于以下几个方...

  • 2023-02-23

    光束质量分析仪以别具一格的光束质量M2测试技术而闻名,具有高分辨率、测量速度快、测量功能全面,无需繁琐的导轨等优点。它的通用性强,连续和脉冲光束都能测量且脉冲测量自动触发,功能全面,十分适合用于激光分析、眼科仪器、科研级光学精密仪器的表面和波前测量等应用。光束质量分析仪是一款符合标准的测量设备,保持着在该领域的地位。测量过程中,固定的透镜和高速的自动光学导轨使得相机可以快速的采集到从近场到远场多个位置的激光光斑,测量、传输以及激光功率衰减全部由软件自动控制。在工作过程中造束腰...

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