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Lumetrics 测厚仪是基于光学干涉原理设计的

更新时间:2023-08-23      点击次数:284
  Lumetrics 测厚仪是基于光学干涉原理设计的。当光线通过物体时,会发生干涉现象,根据干涉的特性可以推断出物体的厚度。利用光学干涉技术,通过测量光线的干涉图案来确定物体的厚度。它使用一束激光光源照射在被测物体表面,光线经过物体后会发生干涉,然后通过检测器采集干涉图案,通过算法处理得到物体的厚度信息。
 
  它具有高精度的测量能力。由于采用了光学干涉原理,可以实现亚微米级甚至纳米级的测量精度,非常适用于对薄膜、涂层等薄型材料的测量。其次,具有非接触测量的特点,不会对被测物体造成损伤或变形,保证了测量结果的准确性和可靠性。此外,操作简单、快速,可以实现实时测量和在线监测,提高了工作效率。
 
  Lumetrics 测厚仪在许多领域中得到广泛应用。在制造业中,可以用于对薄膜、涂层、玻璃、塑料等材料的厚度进行测量和控制,保证产品质量和一致性。在医疗器械和药品行业中,可以用于对医疗器械、药片、胶囊等的厚度进行测量,确保产品符合规定的标准。在光学和电子行业中,可以用于对光学元件、显示屏、半导体芯片等的厚度进行测量和质量控制。此外,还可以应用于食品加工、纺织、化工等行业。
  Lumetrics 测厚仪
  Lumetrics 测厚仪的操作使用步骤:
 
  1.确保电源供应正常,仪器处于适宜的工作环境中。检查测厚仪的探头和仪器表面是否清洁。
 
  2.按下电源开关,启动仪器。等待一段时间,使仪器完成自检和初始化过程。
 
  3.使用仪器上的控制按钮或触摸屏,设置测量参数,如测量模式、测量单位、测量范围等。根据需要选择适当的参数。
 
  4.将待测厚度的物体放置在测量台上,确保物体与探头之间有适当的接触。
 
  5.将探头轻轻接触到物体表面,确保探头与物体垂直,并保持稳定。触发测量按钮或使用触摸屏上的测量命令,仪器将自动进行测量。
 
  6.根据测量仪器的显示,记录测量结果。通常,会显示物体的厚度值,并可以在屏幕上显示图形或数据。
 
  7.根据需要,对测量结果进行分析和处理。可以使用仪器上的功能或将数据传输到计算机进行进一步处理。
 
  8.完成测量后,按下电源关闭按钮,关闭仪器。断开与电源的连接,并进行必要的清洁和维护。
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