光学玻璃应力测量

简要描述：Hinds Instruments 公司的大尺寸高精应力双折射分布测量系统适用于LED液晶玻璃基板的应力分布测量。产品测量精度*（0.005 nm），且定制平台扫描，用于LED液晶面板尺寸（Exicor Gen 6 - 1550 mm x 1850 mm / Exicor Gen 5 1150 mm x 1350 mm ）
光学玻璃应力测量，大型液晶基板应力分布测量，应力测量。

更新时间：2022-09-27

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品牌	其他品牌	价格区间	面议
产地类别	进口	应用领域	医疗卫生,能源,电子,交通

LCD材料的超低阶双折射测量

用于LCD的Exicor GEN系列

Hinds Instruments 公司的大尺寸高精应力双折射分布测量系统用于LED液晶玻璃基板的应力分布测量。产品测量精度*（0.005 nm），且定制平台扫描，用于LED液晶面板尺寸（Exicor Gen 6 - 1550 mm x 1850 mm / Exicor Gen 5 1150 mm x 1350 mm ）光学玻璃应力测量，大型液晶基板应力分布测量，应力测量。光学玻璃应力测量，如用于LCD（高达1500mm x 1500mm）的光学材料。

重要特点

•占地小 - 大限度地减少设备所需的工厂空间

•平台设计 -设计使可测量面积MAX

•强大的自动化 - 质量阶段和硬件MAX正常运行时间

•稳定的服务支持 - 各地的支持中心和备件中心

•符合工业标准 - 符合S2 / S8和CE标准

•灵活的软件 - 优化的GUI软件。自定义功能和DLL接口可用

•低维护设计 - 易于维修的组件

•负载辅助 - 倾斜阶段选项

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