热门关键词: 测角仪,应力双折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD检测设备,波片相位延迟,剪切
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简要描述:X-LDQ-AE 系列,线性电动位移台,集成控制器。速度可达1.5m/s, 加速度为2g。
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精密光机系统
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