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  • 光学表面质量检测系统是一款革命性的光学表面 质量检测系统,具备高重复性和准确性。

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    更新日期:2025-05-17
  • 非接触式测厚仪采用了短相干光源的迈克尔逊干涉仪原理。可单次测量多层膜,最高可测 20 层。

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    更新日期:2025-05-17
  • 夏克哈特曼传感器集合了干涉仪、光束分析仪、自准直仪及四象限探测器优点于一身,具有测量速度快、精度高、尺寸小巧的特点。

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    更新日期:2025-05-17
  • 干涉仪:非接触式技术检测抛光平面和球面的精度(功率、不规则度);测试表面半径;检测目标传输波前畸变(TWD)。

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    更新日期:2025-05-17
  • 各向异性测量系统2-MGEM椭圆计是一个重大的突破,光学各向异性测量技术更快、更准确、收集更多的数据。

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    更新日期:2026-04-10
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