热门关键词: 测角仪,应力双折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD检测设备,波片相位延迟,剪切
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简要描述:M6-UV-QED衰减片:用于M6超快热电探测器专用衰减器。允许对紫外的测量。QED-12用于QE12系列宽带衰减器。300-2100nm。
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